紅外熱成像技術(shù)發(fā)展到今天，從軍用到民用，從科研到工業(yè)，應(yīng)用層級越來越多，應(yīng)用范圍越來越廣。始于20世紀(jì)50年代的紅外熱成像技術(shù)走過了三代的歷程，它以接收景物自身各部分輻射的紅外線來進(jìn)行探測，與微光成像技術(shù)相比，具有穿透煙塵能力強(qiáng)、可識別偽目標(biāo)、可晝夜工作等特點(diǎn)。在過去的20年里，熱成像技術(shù)幾乎在每個行業(yè)的維護(hù)、故障排查、質(zhì)量控制以及研發(fā)領(lǐng)域都掀起了一場變革。細(xì)節(jié)查看和性能的巨大提升加上成本的降低以及界面的簡化，讓熱像儀在越來越多的應(yīng)用領(lǐng)域成為了常見的日常工具選擇。熱像儀能夠以放射測定的方式提供詳細(xì)信息，即紅外圖像內(nèi)各個測量點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù)，而無需接觸被測物體。因此，對于使用接觸式測量可能導(dǎo)致?lián)p壞或污染，或者由于體積過小而無法通過接觸式工具進(jìn)行測量的檢測目標(biāo)而言，熱像儀是一款理想的測量工具。
格物優(yōu)信專用的微距鏡頭紅外熱成像設(shè)備，可助力于精密儀器，電子電路板等微型測溫對象，能實(shí)現(xiàn)目標(biāo)物清晰成像與準(zhǔn)確測溫。
無論您是在設(shè)計(jì)新裝置、對元器件或完全裝配好的電路板執(zhí)行質(zhì)量控制檢測，還是對成品裝置進(jìn)行故障排查，能夠在微觀電子器件的熱圖像中發(fā)現(xiàn)細(xì)微差異都可幫助您更加快速地診斷問題點(diǎn)或是將電路板或元器件放行。以下實(shí)例說明了在電子裝置的設(shè)計(jì)、測試和加工中微距鏡頭如何幫助您節(jié)約時(shí)間和金錢，以及如何讓您少走彎路。
